特許
J-GLOBAL ID:201603011899749130

電子制御装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 鎌田 徹 ,  津田 拓真 ,  伊藤 健太郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-040148
公開番号(公開出願番号):特開2016-159766
出願日: 2015年03月02日
公開日(公表日): 2016年09月05日
要約:
【課題】車両に搭載される電子制御装置であって、使用環境に応じて正確に寿命を判定するための指標を算出することができる電子制御装置を提供する。【解決手段】温度センサ22は、複数のサンプリング時刻においてマイクロコンピュータ20の温度を検出し、CPU21は、所定期間毎に温度センサ22が検出する温度の変化量に基づいて、マイクロコンピュータ20の寿命及びマイクロコンピュータ20と基板11との間の接続部における寿命の少なくとも一方に影響を与えるストレス量Sを算出するとともに、ストレス量Sを合計した合計ストレス量Sallを算出する。メモリ23は、合計ストレス量Sallを記憶する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
車両(100)に搭載される電子制御装置(10,10A,10B)であって、 電子部品が接続される基板(11)と、 前記基板に接続されたマイクロコンピュータ(20)であって、演算を行う演算部(21,21A,21B)と、前記マイクロコンピュータの温度を検出する温度検出部(22)と、情報を記憶する記憶部(23)と、を有する前記マイクロコンピュータと、を備え、 前記温度検出部は、複数のサンプリング時刻において温度を検出し、 前記演算部は、所定期間毎に前記温度検出部が検出する温度の変化量に基づいて、前記マイクロコンピュータの寿命及び前記マイクロコンピュータと前記基板との間の接続部における寿命の少なくとも一方に影響を与えるストレス量(S)を算出するとともに、前記ストレス量を合計した合計ストレス量(Sall)を算出し、 前記記憶部は、前記合計ストレス量を記憶することを特徴とする電子制御装置。
IPC (1件):
B60R 16/02
FI (1件):
B60R16/02 650J
引用特許:
審査官引用 (10件)
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