特許
J-GLOBAL ID：201603016207055632
変調光検出のSN比を向上する方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (4件)：
植木 久一
, 植木 久彦
, 菅河 忠志
, 伊藤 浩彰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-254326
公開番号（公開出願番号）：特開2016-114519
出願日： 2014年12月16日
公開日（公表日）： 2016年06月23日
要約：
【課題】バックグラウンド光の影響を受けずに、変調光のSN比を向上する方法を提供する。【解決手段】変調光を受光素子で受ける工程と、受光素子において発生する電荷を、第1期間、第1電荷保持部で保持する工程と、第1期間の終了後の第2期間、受光素子において発生する電荷を第2電荷保持部で保持する工程と、所定前期期間の間に第1電荷保持部に蓄積された電荷量Q11を検出するとともに、前期期間の間に第2電荷保持部に蓄積された電荷量Q21を検出する工程と、前期期間の終了後、第1期間の位相と変調光の位相を相対的に所定量移相させて、所定後期期間の間に第1電荷保持部に蓄積された電荷量Q12を検出するとともに、後期期間の間に第2電荷保持部に蓄積された電荷量Q22を検出する工程と、{(Q11とQ21の差分値)と(Q12とQ22の差分値)との差分値}を算出する工程とを有する変調光のSN比を向上する方法。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
複数の受光素子を有する受光素子群において、検出されかつTの周期を有する変調光のSN比を向上する方法であって、
(a)前記変調光を複数の受光素子で受ける工程と、
(b)前記受光素子において発生する電荷を、第1期間、第1電荷保持部で保持する工程と、
(c)前記第1期間の終了後の第2期間、前記受光素子において発生する電荷を第2電荷保持部で保持する工程と、
(d)前記第1期間と前記第2期間との組を少なくとも1回以上含む前期期間の間に前記第1電荷保持部に蓄積された電荷量Q11を検出するとともに、前記前期期間の間に前記第2電荷保持部に蓄積された電荷量Q21を検出する工程と、
(e)前記前期期間の終了後、前記第1期間の位相と前記変調光の位相を相対的に所定量移相させて、前記第1期間と前記第2期間との組を少なくとも1回以上含む後期期間の間に前記第1電荷保持部に蓄積された電荷量Q12を検出するとともに、前記後期期間の間に前記第2電荷保持部に蓄積された電荷量Q22を検出する工程と、
(f){(Q11とQ21の差分値)と(Q12とQ22の差分値)との差分値}を算出する工程と、を有し、
前記前期期間及び前記後期期間が変調光の周期T×nを含み(nは1以上の整数)、前記第1期間と前記第2期間は、それぞれT/2以下である方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (15件)：
2G043AA01
, 2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA05
, 2G043EA03
, 2G043FA01
, 2G043GA08
, 2G043GB28
, 2G043KA01
, 2G043KA02
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043MA01
, 2G043NA01
