特許
J-GLOBAL ID：201603017810105993

分光光度計

発明者：
和久井 隆行

和久井 隆行 について

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戸辺 早人

戸辺 早人 について

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中村 孝一

中村 孝一 について

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山本 浩司

山本 浩司 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (3件)： 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  岩崎 重美
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-181302
公開番号（公開出願番号）：特開2014-038055
特許番号：特許第5961482号
出願日： 2012年08月20日
公開日（公表日）： 2014年02月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】試料を設置するための試料室と、 前記試料室の開口部を開閉可能な試料室蓋と、 前記試料室蓋の開閉状態を検知する試料室蓋開閉検知手段と、 前記試料室に設置された試料に光を照射するキセノンフラッシュランプを有する光源と、 当該試料に照射された光を検出する検出器と、からなる光学系と、 当該検出された光に基づいて前記試料を分析する演算部と、当該分析に関する情報を記憶する記憶部と、からなる制御部と、備えた分光光度計であって、 前記制御部は、 前記試料室蓋開閉検知手段によって、前記試料室蓋が開いた状態から閉じた状態となったことを検知したのちに、 前記記憶部にあらかじめ記憶された待ち時間を経過するまで、前記キセノンフラッシュランプが消灯している状態を維持し、 当該待ち時間が経過したのちに、前記キセノンフラッシュランプを点灯させ、 当該キセノンフラッシュランプが点灯した状態において、前記検出器によって試料に照射された光に基づく情報を取得し、 当該情報の取得が終了したのちに、前記キセノンフラッシュランプを消灯するように前記光源を制御することを特徴とする分光光度計。
IPC (2件)：
G01J 3/42 ( 200 6.01) ,  G01J 3/02 ( 200 6.01)
FI (2件)：
G01J 3/42 Z ,  G01J 3/02 C
引用特許：
出願人引用 (13件)
  • 自動分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-322015   出願人：株式会社東芝, 東芝メディカルシステムズ株式会社
  • 劣化度測定システム
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-079995   出願人：株式会社日立ビルシステム
  • 測色装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-220952   出願人：ミノルタ株式会社
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審査官引用 (9件)
  • 分光光度計
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-005818   出願人：株式会社島津製作所
  • 分光光度計
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-250167   出願人：株式会社島津製作所
  • 特開昭64-049940
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