特許
J-GLOBAL ID：201603018547999093

プレス部品用検査装置

発明者：
山根 稔正

山根 稔正 について

, 
山根 義昭

山根 義昭 について


出願人/特許権者：
株式会社キーレックス

株式会社キーレックス について


代理人 (1件)： 特許業務法人前田特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-178795
公開番号（公開出願番号）：特開2014-037977
特許番号：特許第6016515号
出願日： 2012年08月10日
公開日（公表日）： 2014年02月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 平面部及び該平面部周縁に連続する側面部からなるパネル状のプレス部品を上記平面部が搬送方向に沿う姿勢で載置して一定速度で直線状に搬送するコンベアと、 上記プレス部品を搬送方向と直交する上方から撮影可能に配置され、上記コンベアによって搬送される上記プレス部品が撮影領域を横切る際、当該プレス部品を撮影するカメラと、 該カメラの側方に配置され、当該カメラの撮影領域に入ったプレス部品の平面部に対し光を垂直に照射する第1光源と、 該第1光源の側方に配置され、上記カメラの撮影領域に入ったプレス部品の平面部に対し光を斜めに照射する第2光源と、 上記カメラで撮影したプレス部品の画像を演算する演算部、及びプレス部品の表面仕上がり状態の基準データが予め記憶された記憶部を有し、上記演算部で処理されたプレス部品の演算データと上記基準データとを比較して上記プレス部品の良否を判定する判定手段とを備えていることを特徴とするプレス部品用検査装置。
IPC (1件)：
G01N 21/95 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01N 21/95 Z
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)
  • 欠陥検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-245677   出願人：オムロン株式会社
  • 表面欠陥検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-105463   出願人：ダイハツ工業株式会社, 中央電子計測株式会社
  • レリーフ表面検査方式
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-342518   出願人：富士電機ホールディングス株式会社, 独立行政法人造幣局
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