文献

J-GLOBAL ID：201702214279319820   整理番号：17A0547963

X線マイクロビームを用いた窒化物系単一ナノワイヤ上Ga_1-xIn_xN/GaN量子井戸の構造評価

著者 (12件)： 清木良麻 (名城大 理工) ,  澁谷弘樹 (名城大 理工) ,  今井康彦 (高輝度光科学研究セ) ,  隅谷和嗣 (高輝度光科学研究セ) ,  木村滋 (高輝度光科学研究セ) ,  岩瀬航平 (名城大 理工) ,  宮嶋孝夫 (名城大 理工) ,  上山智 (名城大 理工) ,  今井大地 (名城大 理工) ,  竹内哲也 (名城大 理工) ,  岩谷素顕 (名城大 理工) ,  赤崎勇 (名城大 理工)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 64th  ページ： ROMBUNNO.14p-E205-6  発行年： 2017年03月01日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： ビーム ,  X線回折 ,  *窒化物 ,  *ナノワイヤ ,  *インジウム化合物 ,  *ガリウム化合物 ,  窒化ガリウム ,  *量子井戸 ,  構造解析 ,  MOCVD ,  X線マイクロビーム ,  *窒化インジウムガリウム
準シソーラス用語： GaN ,  構造評価

分類 (2件)： 窒素とその化合物  (YB02050S) ,  半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (6件)： X線マイクロビーム ,  窒化物 ,  ナノワイヤ ,  GaN ,  量子井戸 ,  構造評価