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J-GLOBAL ID:201702217636018252   整理番号:17A0869518

スパッタ法によるNb2O5/SiO2多層積層膜の,塩素エッチマスクを利用した一段の誘導結合プラズマエッチング

Single-step inductively coupled plasma etching of sputtered Nb2O5/SiO2 multilayer stacks using chromium etch mask
著者 (5件):
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巻: 35  号:ページ: 041302-041302-5  発行年: 2017年07月 
JST資料番号: C0789B  ISSN: 0734-2101  CODEN: JVTAD6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,イオンビームスパッタ法を用いて成膜したNb2O5/SiO2多層積層膜のドライエッチング特性を報告する。ドライエッチングは,誘導結合プラズマ(ICP)反応性イオンエッチング装置において,CHF3とArとの混合ガスを利用して実施する。エッチングパラメータ(ガス比(CHF3/Ar),高周波電力,ICPパワー,真空槽圧力,温度など)の効果を調べる。エッチング処方は,高いエッチ速度,良好な選択性,最適なエッチ形状を得られるように最適化する。最適化した処方では,双方の誘電物質に対し一段のエッチ方法が実現する。さらに,塩素系エッチマスクの成膜と構造化過程を研究する。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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固体デバイス製造技術一般 

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