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J-GLOBAL ID:201702220466874967   整理番号:17A0776503

偏極4He+イオンビームによるスピン依存イオン散乱とその応用

Electron-Spin Dependent Surface Scattering of a Polarized 4He+ Ion Beam
著者 (3件):
資料名:
巻: 38  号:ページ: 164-169(J-STAGE)  発行年: 2017年 
JST資料番号: F0940B  ISSN: 0388-5321  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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低速He+イオンビームは最表面分析に有用な手段として発展してきたが,スピン偏極4He+イオンビームの開発はこれをさらに発展させた。He+イオンのAuger中性化確率はスピン間で異なることを利用して,偏極He+イオンビームを用いた表面スピン分析が行われる(スピン偏極イオン散乱分光法(SP-ISS))。SP-ISSによる表面磁性分析,スピン軌道相互作用,異常なスピン・軌道結合の起源について解説した。
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分類 (3件):
分類
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電子ビーム,イオンビーム  ,  固体の表面構造一般  ,  その他の粒子による反応・散乱 
タイトルに関連する用語 (5件):
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