Heiderhoff R. について
University of Wuppertal, Institute of Electronic Devices, Rainer-Gruenter-Str. 21, 42119 Wuppertal, Germany について
Haeger T. について
University of Wuppertal, Institute of Electronic Devices, Rainer-Gruenter-Str. 21, 42119 Wuppertal, Germany について
Dawada K. について
University of Wuppertal, Institute of Electronic Devices, Rainer-Gruenter-Str. 21, 42119 Wuppertal, Germany について
Riedl T. について
University of Wuppertal, Institute of Electronic Devices, Rainer-Gruenter-Str. 21, 42119 Wuppertal, Germany について
Microelectronics Reliability について
モデリング について
フォノン について
熱流束 について
薄膜 について
平均自由行程 について
近接場 について
熱管理 について
熱源 について
顕微鏡観察 について
信頼性 について
薄膜技術 について
非晶質膜 について
ナノスケール について
熱輸送 について
非晶質薄膜 について
交差面熱輸送 について
フォノン散乱 について
弾道Stefan-Boltzmann熱輸送 について
SThM について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
拡散 について
薄膜 について
非晶質薄膜 について
バリ について
スティック について
熱輸送 について