Wang Yucheng について
School of Microelectronics, Xidian University, Xi’an, China について
Jia Renxu について
School of Microelectronics, Xidian University, Xi’an, China について
Zhao Yanli について
Zhuzhou CSR Times Electric Co., Ltd., Zhuzhou, China について
Li Chengzhan について
Zhuzhou CSR Times Electric Co., Ltd., Zhuzhou, China について
Zhang Yuming について
School of Microelectronics, Xidian University, Xi’an, China について
Journal of Electronic Materials について
薄膜コンデンサ について
MOS構造 について
漏れ電流 について
酸化ケイ素 について
酸化ランタン について
Schottky障壁 について
Poole-Frenkel効果 について
積層構造 について
Fowler-Nordheimトンネリング について
MOSキャパシタ について
La2O3 について
4H-SiC について
x-ray photoelectron spectroscopy について
current leakage mechanism について
金属-絶縁体-半導体構造 について
SiO2 について
厚み について
La2O3 について
4H-SiC について
MOSキャパシタ について
漏れ電流 について
メカニズム について