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J-GLOBAL ID：201702222746678601   整理番号：17A0968781

アナログCMOS回路における同時に発生するパラメータの軟短と局所変動の診断【Powered by NICT】

Diagnosis of a soft short and local variations of parameters occurring simultaneously in analog CMOS circuits

著者 (2件)： Tadeusiewicz Michal (Department of Electrical, Electronic, Computer and Control Engineering, Lodz University of Technology, Stefanowskiego 18/22, 90-924 Lodz, Poland) ,  Halgas Stanislaw (Department of Electrical, Electronic, Computer and Control Engineering, Lodz University of Technology, Stefanowskiego 18/22, 90-924 Lodz, Poland)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 72  ページ： 90-97  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,ナノメータ技術で設計した非線形アナログCMOS回路の故障診断を行った。,同時に発生する,1個のソフト短いと局所パラメータ変動を診断可能にする方法を開発した。法,試験相における点の限られた数でのDC測定を利用した。診断試験は非線形代数方程式の系に導く,明示的な解析型,多重解をもつ可能性があることで与えられなかった。解は一つのソフト短い値からなる集合と予備的に選択したパラメータのいくつかの値を決定した。それらを見つけるために拡張型単体アルゴリズムを開発した。異なる空間曲線を追跡する,異なる解に至る可能にした。さらに,得られたものの中から実際の解を選択するための方法を提案した。説明のために代表的な数値例を詳細に検討した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 故障診断 ,  多重化 ,  *アナログ系 ,  アルゴリズム ,  代数方程式
準シソーラス用語： パラメータ変動 ,  ナノメータ ,  *CMOS集積回路 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： アナログCMOS回路 ,  故障診断 ,  ナノメータ技術 ,  パラメータ変動 ,  ソフト短絡

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： アナログ ,  CMOS回路 ,  パラメータ ,  診断