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J-GLOBAL ID：201702223269463423   整理番号：17A0914737

亀裂のある多層超伝導薄膜における遮蔽電流解析:j_Cを測定するための非接触法への応用【Powered by NICT】

Shielding current analysis in multiple-layered superconducting film with cracks: Application to contactless method for measuring j_C

著者 (3件)： Takayama Teruou (Department of Informatics, Yamagata University, Yonezawa, Yamagata 992-8510) ,  Saitoh Ayumu (Graduate School of Science and Engineering, Yamagata University, Yonezawa, Yamagata 992-8510) ,  Kamitani Atsushi (Graduate School of Science and Engineering, Yamagata University, Yonezawa, Yamagata 992-8510)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICCEM  ページ： 198-200  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 深さを考慮した亀裂を含む高温超伝導(HTS)薄膜中の臨界電流密度の測定への走査型永久磁石法の適用性を数値的に調べた。この目的のために,亀裂を有する積層型HTS薄膜中の遮蔽電流密度を解析するために開発した数値コード。コードを用いて,走査型永久磁石法を数値的に再現した。の計算結果は,亀裂を含む領域は,欠陥パラメータを用いて得ることができることを示した。さらに,走査永久磁石法は内部も亀裂を検出ことが証明されたことが分かった。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 走査 ,  *亀裂 ,  永久磁石 ,  *多層 ,  *薄膜 ,  適応性 ,  *超伝導薄膜 ,  臨界電流密度
準シソーラス用語： *非接触 ,  *遮蔽電流 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 超伝導材料  (BM04041W) ,  超伝導体の物性一般  (BM04021A)

タイトルに関連する用語 (7件)： 亀裂 ,  多層 ,  超伝導薄膜 ,  遮蔽電流 ,  解析 ,  非接触 ,  応用