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J-GLOBAL ID：201702225106642286   整理番号：17A1507938

ピペット予測を利用した走査型イオンコンダクタンス顕微鏡イメージング速度を改善するための新しい走査モード【Powered by NICT】

A new scanning mode to improve scanning ion conductance microscopy imaging rate with pipette predicted movement

著者 (6件)： Zhuang Jian (Key Laboratory of Education Ministry for Modern Design Rotor-Bearing System, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China) ,  Zhuang Jian (School of Mechanical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China) ,  Jiao Yangbohan (Key Laboratory of Education Ministry for Modern Design Rotor-Bearing System, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China) ,  Jiao Yangbohan (School of Mechanical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China) ,  Mugabo Vincent (Key Laboratory of Education Ministry for Modern Design Rotor-Bearing System, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China) ,  Mugabo Vincent (School of Mechanical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
資料名： Micron  (Micron)
巻： 101  ページ： 177-185  発行年： 2017年 
JST資料番号： E0318E  ISSN： 0968-4328  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)は,生きている生物試料のようなソフトな表面への利用が増加していることを非接触表面形状測定法である。アプローチ後退走査(ARS)モードはSICMプローブ(すなわち,ピペット)間の衝突と試料プロファイルの急激な増加を避けるために広く使用されている。しかし,ARSモードにおける冗長ピペット軌跡は走査時間を長く,SICM効率と時間分解能を低下させた。この問題を避けるために,新しい走査モードはイオン電流の変化を介して来るべき試料のトポグラフィーを予測するために各測定点での水平運動を加えることを検討した。トポグラフィーを上昇に応答してピペットを引込む,ラスタ平坦あるいは下り坂トポグラフィーを走査する。三種類の試料の有限要素解析と実験的試験によって検証した実現可能性:ポリジメチルシロキサン,マウス心臓線維芽細胞と乳癌細胞。画像中の画素検出頻度と試料トポグラフィーの平均二乗誤差は二モードを比較した。新しい走査モードは,イメージング品質または走査安定性を損なうことなくSICM画像速度を向上させ,効率と時間分解能を増加させた。は,生物学的試料を特性化するための改良された性能を持っている。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *画像処理 ,  イオン電流 ,  *予測 ,  品質 ,  ラスタ ,  *走査 ,  軌跡 ,  キャラクタリゼーション ,  生体試料 ,  画素 ,  時間分解能
準シソーラス用語： 平均二乗誤差 ,  有限要素解析 ,  *走査型イオン伝導顕微鏡 ,  *ピペット , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM) ,  走査モード ,  アプローチ撤回走査(ARS)モード ,  有限要素解析(FEA) ,  イメージング速度

分類 (1件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

タイトルに関連する用語 (5件)： ピペット ,  予測 ,  走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 ,  イメージング ,  走査