Calienes W.E. について
Instituto de Informatica, PGMicro/PPGC, Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, RS, Brazil について
de Aguiar Y.Q. について
Instituto de Informatica, PGMicro/PPGC, Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, RS, Brazil について
Meinhardt C. について
Centro de Ciencias Computacionais, PPGComp, Universidade Federal do Rio Grande, Rio Grande, RS, Brazil について
Vladimirescu A. について
Institut Superieur d’Electronique de Paris, Microelectronics Laboratory, Paris, France について
Reis R. について
Instituto de Informatica, PGMicro/PPGC, Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, RS, Brazil について
Microelectronics Reliability について
NMOS構造 について
温度係数 について
温度変動 について
シミュレーション について
電荷 について
重イオン について
重イオンビーム について
衝撃 について
温度依存性 について
TCAD について
FDSOI について
トランジスタ について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
バルク について
FDSOI について
重粒子線 について
生物効果 について
評価 について