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J-GLOBAL ID：201702227050791112   整理番号：17A1642847

GeV領域ガンマ線ビームプロファイルモニタへのX線フラットパネルセンサの応用【Powered by NICT】

Application of an X-ray flat panel sensor to a GeV region gamma-ray beam profile monitor

著者 (15件)： Kanda Hiroki (Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Honda Kazuhisa (Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Ishikawa Takatsugu (Research Center for Electron Photon Science, Tohoku University, Sendai 982-0826, Japan) ,  Kaneta Masashi (Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Maeda Kazushige (Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Miyabe Manabu (Research Center for Electron Photon Science, Tohoku University, Sendai 982-0826, Japan) ,  Muroi Yuta (Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Nakai Wataru (Department of Physics, University of Tokyo, Tokyo 113-0033, Japan) ,  Nakamura Satoshi N. (Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Ninomiya Aki (Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Ozawa Yuki Obara Kyoichiro (Institute of Particle and Nuclear Studies, High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Tsukuba 305-0801, Japan) ,  Ozeki Keiichi (Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Sasaki Takayuki (Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Shimizu Hajime (Research Center for Electron Photon Science, Tohoku University, Sendai 982-0826, Japan) ,  Tokiyasu Atsushi O. (Research Center for Electron Photon Science, Tohoku University, Sendai 982-0826, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： NSS/MIC/RTSD  ページ： 1-3  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 1GeV領域ガンマ線ビームのためのビームプロファイルモニタはX線フラットパネルセンサを用いて開発した。γ線への感度を増加させるために,入力窓に設置した変換器板。各種変換器板のガンマ線光子を入力への感度を試験した。画素の出力輝度はガンマ線光子から変換された電子と陽電子の数に相関があることが分かった。1mm厚さの鉛板で得られた1GeV領域ガンマ線ビームの測定したプロファイルは,プラスチックシンチレータホドスコープで測定したビームプロファイルと一致した。X線フラットパネルセンサは1GeV領域ガンマ線ビームのためのビームプロファイルモニタに十分に利用できることが示唆された。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 変換器 ,  陽電子 ,  *GeV領域 ,  鉛 ,  *X線 ,  *γ線 ,  輝度 ,  画素 ,  光子 ,  *ビームプロファイル ,  *ビームプロファイルモニタ

分類 (1件)： 加速器一般及び理論  (BE02010M)

タイトルに関連する用語 (5件)： GeV領域 ,  ガンマ線 ,  ビームプロファイルモニタ ,  X線 ,  応用