高Tc候補Nd3.5Sm0.5Ni3O8に対するシンクロトロンX線回折と高圧電気抵抗率の研究

UEHARA Masatomo; KOBAYASHI Kai; YAMAMOTO Hiroki; NAKATA Akitoshi; WAKIYA Kazuhei; UMEHARA Izuru; GOUCHI Jun; UWATOKO Yoshiya

文献

J-GLOBAL ID：201702227625227983 整理番号：17A1813372

高T_c候補Nd_3.5Sm_0.5Ni₃O₈に対するシンクロトロンX線回折と高圧電気抵抗率の研究

Synchrotron X-ray Diffraction and High-Pressure Electrical Resistivity Studies for High-T_c Candidate Nd_3.5Sm_0.5Ni₃O₈

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著者 (8件)： , , , , , , ,
資料名：
巻： 86 号： 11 ページ： 114605.1-114605.6 発行年： 2017年11月15日
JST資料番号： G0509A ISSN： 0031-9015 CODEN： JUPSA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

Ln₄Ni₃O₈(Ln=La,Nd,Sm)は,高T_c銅酸化物と構造・電気類似性が近いため,高T_c超伝導体の候補として大きく注目されている。しかし,Ln₄Ni₃O₈は超伝導体ではなく,半導性挙動を示す。著者らの最近の研究で,Nd_3.5Sm_0.5Ni₃O₈は,硫黄でインターカレーション処理し,続いて硫黄のデインターカレーション処理を行うと20-40Kまで金属性挙動を示し,それより低温で弱い半導性の傾向が続くことが明らかにされた。シンクロトロンX線回折実験から,硫黄処理により誘起された構造変化は余分な頂点酸素が除去されて静電的に説明できると示唆される。金属性試料を最高8GPaまで高圧電気抵抗率測定を行い,低温で半導性傾向が増強することを示した。これから,余分な頂点酸素の除去は,本研究の硫黄処理条件では完全に完結しないと示唆される。(翻訳著者抄録)

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酸化物系超伝導体の物性 , 金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造

引用文献 (27件)：

V. V. Poltavets, K. A. Lokshin, A. H. Nevidomskyy, M. Croft, T. A. Tyson, J. Hadermann, G. V. Tendeloo, T. Egami, G. Kotliar, N. ApRoberts-Warren, A. P. Dioguardi, N. J. Curro, and M. Greenblatt, Phys. Rev. Lett. 104, 206403 (2010).
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