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J-GLOBAL ID：201702229840065865   整理番号：17A0009413

1から10nmまでの軟X線スペクトル領域における高度荷電イオンプラズマ放射のためのフラットフィールドすれすれ入射分光計の評価

Evaluation of a flat-field grazing incidence spectrometer for highly charged ion plasma emission in soft x-ray spectral region from 1 to 10 nm

著者 (17件)： Dinh Thanh Hung (Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan) ,  Kondo Yoshiki (Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan) ,  Tamura Toshiki (Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan) ,  Ono Yuichi (Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan) ,  Hara Hiroyuki (Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan) ,  Oikawa Hiroki (Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan) ,  Yamamoto Yoichi (Kansai Photon Science Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 8-1-7 Umemidai, Kizugawa, Kyoto 619-0215, Japan) ,  Ishino Masahiko (Kansai Photon Science Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 8-1-7 Umemidai, Kizugawa, Kyoto 619-0215, Japan) ,  Nishikino Masaharu (Kansai Photon Science Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 8-1-7 Umemidai, Kizugawa, Kyoto 619-0215, Japan) ,  Makimura Tetsuya (Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan) ,  Dunne Padraig (School of Physics, University College Dublin, Belfield, Dublin 4, Ireland) ,  O’Sullivan Gerry (School of Physics, University College Dublin, Belfield, Dublin 4, Ireland) ,  Ohta Shigeru (Vacuum and Optical Instruments, 2-18-18 Shimomaruko, Ohta-ku, Tokyo 146-0092, Japan) ,  Kitano Ken (Vacuum and Optical Instruments, 2-18-18 Shimomaruko, Ohta-ku, Tokyo 146-0092, Japan) ,  Ejima Takeo (Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University, 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, Japan) ,  Hatano Tadashi (Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University, 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, Japan) ,  Higashiguchi Takeshi (Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 87  号： 12  ページ： 123106-123106-7  発行年： 2016年12月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 1から10nmまでのスペクトル領域で作動する,フラットフィールドすれすれ入射分光計を,高温かつ高エネルギー密度プラズマの物理の研究のために建設した。それは分散要素としての2400ライン/mmを持つフラットフィールド格子と,検出器としてのX線荷電結合素子(CCD)カメラから成る。格子の回折効率とCCDカメラの感度は,フォトンファクトリ(PF)のBL-11Dビームラインで,シンクロトロン放射を使用して直接測定した。汚染の分光計への影響もまた特性評価した。この結果は我々に,取得内の1と10nmの間の広範な波長での光子の絶対数の評価を可能にする。我々はGdの高度荷電イオンプラズマからの絶対較正したスペクトルを得,それから0.26%の最大エネルギー転換効率を,3×10¹²W/cm²のNd:YAGレーザ強度で観測した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *X線スペクトロメータ ,  軟X線 ,  多価イオン ,  *プラズマ分光 ,  X線回折 ,  すれすれ入射 ,  回折格子 ,  CCDカメラ ,  キャリブレーション

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (10件)： 軟X線 ,  スペクトル ,  荷電 ,  イオン ,  プラズマ放射 ,  フラット ,  フィールド ,  すれすれ入射 ,  分光計 ,  評価