Zhang Haohao について
The Key Laboratory of Microelectronics Devices & Integrated Technology, Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China について
Zhang Haohao について
Jiangsu Synergetic Innovation Center for Advanced Materials (SICAM), Nanjing 210009, China について
Bi Jinshun について
The Key Laboratory of Microelectronics Devices & Integrated Technology, Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China について
Bi Jinshun について
Jiangsu Synergetic Innovation Center for Advanced Materials (SICAM), Nanjing 210009, China について
Wang Haibin について
School of Internet of Things Engineering, HoHai University, Changzhou, China について
Hu Hongyang について
The Key Laboratory of Microelectronics Devices & Integrated Technology, Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China について
Hu Hongyang について
Jiangsu Synergetic Innovation Center for Advanced Materials (SICAM), Nanjing 210009, China について
The Key Laboratory of Microelectronics Devices & Integrated Technology, Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China について
Jiangsu Synergetic Innovation Center for Advanced Materials (SICAM), Nanjing 210009, China について
Ji Lanlong について
The Key Laboratory of Microelectronics Devices & Integrated Technology, Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China について
Ji Lanlong について
Jiangsu Synergetic Innovation Center for Advanced Materials (SICAM), Nanjing 210009, China について
Liu Ming について
The Key Laboratory of Microelectronics Devices & Integrated Technology, Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China について
Liu Ming について
Jiangsu Synergetic Innovation Center for Advanced Materials (SICAM), Nanjing 210009, China について
Microelectronics Reliability について
イオン化 について
シミュレータ について
放射線量 について
トランジスタ について
焼入 について
記憶構造 について
磁気 について
シミュレーション について
衛星搭載 について
抵抗変化 について
HSPICE について
コンパクトモデル について
磁気トンネル接合 について
ReRAM について
MRAM について
全電離線量効果 について
読取ビット誤差 について
SPICEモデル について
放射線硬化 について
半導体集積回路 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
磁気 について
抵抗ランダムアクセスメモリ について
全電離 について
線量 について
誘起 について
読取 について
ビット誤 について
研究 について