Boige F. について
LAPLACE, University of Toulouse, CNRS, INPT, UPS, France について
Richardeau F. について
LAPLACE, University of Toulouse, CNRS, INPT, UPS, France について
Microelectronics Reliability について
MOSFET について
生産者 について
電力 について
ロバスト性 について
故障 について
炭化ケイ素 について
モデリング について
耐久性 について
チップサイズ について
トレンチゲート構造 について
ゲート漏れ電流 について
トレンチ について
炭化けい素(SiC) について
パワーMOSFET について
短絡 について
ゲート漏れ電流 について
ゲート酸化物の信頼性 について
トランジスタ について
半導体集積回路 について
短絡 について
手術 について
トレンチ について
SiC について
MOSFET について
ゲート漏れ電流 について
解析 について
モデル化 について