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J-GLOBAL ID：201702234440204241   整理番号：17A1544912

非常に異常なトランジスタ故障,ソレノイド【Powered by NICT】

A very unusual transistor failure, caused by a solenoid

著者 (2件)： Jacob P. (Empa, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research, CH-8600 Duebendorf, Switzerland) ,  Furrer R. (Empa, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research, CH-8600 Duebendorf, Switzerland)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 76-77  ページ： 102-105  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 産業エレクトロニクスを提供する顧客にすることにより,小さなパワートランジスタの反復故障に直面した。しかし,ほぼ全ての試料が燃焼し,デバイス解析から導いたできなかった。システム解析に向けた次のステップを要した。トランジスタを用いた電子ボードは大きなソレノイドの端部に装着した。基板ホルダの金属ベースプレートも電力トランジスタのヒートシンクとして機能した。ボードはプラスチックハウジング,多くの場合における損傷されたへ実装した。大きなソレノイドのコアは,その機械的末端停止に対する運転した場合,機械的衝撃が電子ボードをノックプラスチックハウジングの終わりまで,利用の幾つかの時間後トランジスタへの熱接触を失った様式でヒートシンク板を変形させることが分かった。その結果,トランジスタは過熱と失敗した。この事例研究は,根本原因発見のためのシステム関連故障解析の必要性を示す良好な例である。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *ソレノイド形コイル ,  電子技術 ,  ヒートシンク ,  *トランジスタ ,  故障解析 ,  電力トランジスタ ,  衝撃 ,  *故障 ,  システム解析 ,  事例研究
準シソーラス用語： 根本原因 ,  ベースプレート , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： システム故障解析 ,  ソレノイド ,  ヒートシンク分解

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： トランジスタ ,  故障 ,  ソレノイド