Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Key Laboratory of Silicon Devices and Technology, Chinese Academy of Sciences,Beijing, China について
Zhao K. について
Fudan Microelectronics Group, Shanghai, China について
College of Electronics and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha, China について
Tianjin Binhai Civil-military Integrated Innovation Institute, Tianjin, China について
Zhao X. について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Zhao X. について
Key Laboratory of Silicon Devices and Technology, Chinese Academy of Sciences,Beijing, China について
College of Electronics and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha, China について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Key Laboratory of Silicon Devices and Technology, Chinese Academy of Sciences,Beijing, China について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Key Laboratory of Silicon Devices and Technology, Chinese Academy of Sciences,Beijing, China について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Key Laboratory of Silicon Devices and Technology, Chinese Academy of Sciences,Beijing, China について
Microelectronics Reliability について
ピクセル検出器 について
感受性 について
漏れ電流 について
信号発生 について
絶縁材料 について
リング発振器 について
耐放射線性 について
キャラクタリゼーション について
バイアス について
ケイ素 について
基質 について
電磁干渉 について
絶縁体 について
閾値電圧 について
読出回路 について
イミュニティ について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
半導体集積回路 について
SOI について
電磁感受性 について
特性化 について