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J-GLOBAL ID：201702241306495450   整理番号：17A1544999

拡張Hakki-Paoli法による実用的な光学利得【Powered by NICT】

Practical optical gain by an extended Hakki-Paoli method

著者 (7件)： Vanzi M. (University of Cagliari DIEE Cagliari, Italy) ,  Marcello G. (University of Cagliari DIEE Cagliari, Italy) ,  Mura G. (University of Cagliari DIEE Cagliari, Italy) ,  Le Gales G. (Laboratoire IMS, Universite de Bordeaux, France) ,  Joly S. (Laboratoire IMS, Universite de Bordeaux, France) ,  Deshayes Y. (Laboratoire IMS, Universite de Bordeaux, France) ,  Bechou L. (Laboratoire IMS, Universite de Bordeaux, France)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 76-77  ページ： 579-583  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 古典Hakki-Paoli法の改正は,ファセット反射率と閉込め係数の事前知識は半導体レーザとLEDエミッタにおける光学利得を測定するための必要ではないことを示した。,法と組み合わせた,印加電圧の関数としての利得のための最近提案された新しい式を唯一のサブしきい値スペクトルデータにより利得関数の関連パラメータを計算することを可能にした。これはしきい値より上の領域からのスペクトルデータに及ぼす機器分解能が発行した知られている重要な問題を回避した。さらに,この最後のチャンスは劣化したデバイス,それらがそれ以上の機能を果たす,レーザしきい値を示す場合も,そしてモニタリングデバイス劣化に関連するパラメータ間の光学利得を含む完全な利得測定を可能にしなかった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 反射率 ,  *利得 ,  レーザ ,  半導体レーザ ,  ファセット ,  分解能
準シソーラス用語： 利得測定 ,  スペクトルデータ ,  サブ閾値 ,  印加電圧 ,  事前知識 ,  *光利得 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (2件)： レーザダイオード ,  光学利得

分類 (2件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 拡張 ,  光学利得