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J-GLOBAL ID:201702243996920022   整理番号:17A1544899

電力半導体素子の信頼性評価プラットフォーム-三相系統連系インバータ応用に関する事例研究【Powered by NICT】

Reliability assessment platform for the power semiconductor devices - Study case on 3-phase grid-connected inverter application
著者 (3件):
資料名:
巻: 76-77  ページ: 31-37  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0530A  ISSN: 0026-2714  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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の故障の高いコストのために,パワー半導体デバイスの信頼性性能は,多くのエネルギー変換応用においてますます重要で緊縮因子になっている。,パワーエレクトロニクスの適切な信頼性解析の必要性が起きた。従来のアプローチは,野外から故障統計に基づくために,パワーデバイスの信頼性評価はまだ挑戦的作業である。与えられた問題を解決するために,信頼性評価プラットフォームを提案した。高度な信頼性設計ツールソフトウェア,与えられたミッションプロファイルとシステム仕様に基づく有用な信頼性情報を提供することができる,最初に開発し,その主要な概念を提示した。試験を容易にし,パワーデバイスの負荷と寿命情報にアクセスするために,新しいミッションプロファイル基づく応力エミュレータ実験装置を提案し,設計した。応力エミュレータ装置と信頼性ツールソフトウェア間のリンクを強調した。最後に,信頼性評価プラットフォームは,三相系統連系インバータ応用事例研究で実証した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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固体デバイス計測・試験・信頼性 

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