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J-GLOBAL ID：201702245639282958   整理番号：17A1544916

高出力IGBTインバータ脚と相対的試験プラットフォームの設計における不均一温度の影響評価【Powered by NICT】

Uneven temperature effect evaluation in high-power IGBT inverter legs and relative test platform design

著者 (6件)： Luo Haoze (Department of Energy Technology, Aalborg University, Denmark) ,  Luo Haoze (College of Electrical Engineering, Zhejiang University, PR China) ,  Li Wuhua (College of Electrical Engineering, Zhejiang University, PR China) ,  He Xiangning (College of Electrical Engineering, Zhejiang University, PR China) ,  Iannuzzo Francesco (Department of Energy Technology, Aalborg University, Denmark) ,  Blaabjerg Frede (Department of Energy Technology, Aalborg University, Denmark)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 76-77  ページ： 123-130  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,不均一な温度条件とその設計基準のための高出力IGBT試験プラットフォームを提示した。測定結果,転流則と独立した接合温度制御に関するレイアウト寄生パラメータの影響を考慮して,普遍的高電力スイッチング特性化プラットフォームを構築し,運転した。重要なことは,3.6kA電流レベル試験要件,最新のIGBTモジュールのための最大の電流レベルをカバーできることができた。二重パルス試験法の試験精度を改善するために,高電流試験条件下で回路電力損失を除去するために提案した補償アルゴリズム。さらに,実生活で発生する不均一な接合温度の影響をシミュレートするために,検査したIGBTとフリーホイーリングダイオードの接合温度を独立に制御した。125°Cまで接合温度のためのスイッチング特性の定量的解析を行った。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 定量的分析 ,  温度条件 ,  シミュレーション ,  *IGBT ,  設計基準 ,  電流 ,  アルゴリズム ,  パルス
準シソーラス用語： 電力損失 ,  試験方法 ,  スイッチング特性 ,  高電力 ,  接合温度 ,  影響評価 ,  *高出力 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT) ,  高出力コンパクトIGBT ,  スイッチング特性プラットフォーム ,  接合温度シミュレーション法

分類 (2件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (9件)： 高出力 ,  IGBT ,  インバータ ,  脚 ,  試験 ,  プラットフォーム ,  設計 ,  不均一 ,  影響評価