Souto J. について
GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain について
Pura J.L. について
GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain について
Torres A. について
GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain について
Jimenez J. について
GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain について
Bettiati M. について
3SP Technologies, Route de Villejust, 91625 Nozay, France について
Laruelle F.J. について
3SP Technologies, Route de Villejust, 91625 Nozay, France について
Microelectronics Reliability について
光劣化 について
高出力レーザ について
レーザ について
半導体レーザ について
熱応力 について
陰極線ルミネセンス について
昇温 について
不連続性 について
ヒ化ガリウムインジウム について
ダイオード について
導波路 について
有限要素法 について
ヒ化ガリウムアルミニウム について
物理モデル について
高出力 について
陰極線ルミネセンス(CL) について
高出力レーザダイオード について
暗黒線欠陥(DLDs) について
カタストロフィックな劣化 について
熱機械的モデリング について
半導体レーザ について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
高出力 について
InGaAs について
AlGaAsレーザ について
ダイオード について
光損傷 について