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J-GLOBAL ID：201702250693490366   整理番号：17A1040549

酸化物ヘテロ界面における酸素イオン伝導の探索

Exploring Oxygen Ion Conductions Emerged at Oxide Heterointerfaces

著者 (1件)： 菅大介 (京大 化研)
資料名： 日本板硝子材料工学助成会成果報告書(CD-ROM)  (Nippon Sheet Glass Foundation for Materials Science and Engineering Report (CD-ROM))
巻： 35  ページ： 98-104  発行年： 2017年 
JST資料番号： X0948B  ISSN： 1883-3128  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 遷移金属酸化物の示す酸化物イオン伝導などの輸送特性は,酸素欠損の配列などの酸素配位環境に強く依存する。我々はヘテロ界面における構造ミスマッチのために形成される特異な酸素配位構造を有する界面層に着目し,酸化物イオン伝導の探求を行った。酸素欠損が秩序配列したブラウンミレライト構造を有するSrFeO_2.5とペロブスカイト構造を有するDyScO₃から構成されるヘテロ界面では,SrFeO_2.5中の酸素欠損の規則配列が消失することを見出した。SrFeO_2.5/DyScO₃ヘテロ構造のシート抵抗率の温度依存性から,SrFeO_2.5中の酸素配位環境が輸送特性に与える影響を議論した。(著者抄録)

シソーラス用語： *酸化物 ,  *遷移金属化合物 ,  *イオン伝導 ,  *点欠陥 ,  結晶構造 ,  パルスレーザ蒸着 ,  ペロブスカイト型結晶 ,  酸化鉄 ,  酸化ストロンチウム ,  酸化ジスプロシウム ,  電気抵抗率 ,  温度依存性 ,  構成 ,  透過型走査電子顕微鏡 ,  技術 ,  X線回折 ,  写像 ,  活性化エネルギー
準シソーラス用語： *遷移金属酸化物 ,  *酸素欠損 ,  *ヘテロ界面 ,  配位構造 ,  パルスレーザ堆積 ,  規則配列 ,  *酸素イオン ,  抵抗率 ,  輸送特性 ,  薄膜形成 ,  STEM【顕微鏡】 ,  可視化技術 ,  軽元素 ,  逆格子マッピング ,  Arrheniusプロット ,  ブラウンミレライト構造

分類 (3件)： 塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  固体中の拡散一般  (BL06021L) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y)

引用文献 (23件)：

• M. Imada, A. Fujimori, and Y. Tokura, Reviews of Modern Physics 70, 1039(1998).
• J. B. Goodenough, Magnetism and the Chemical Bond.(Interscience, 1963).
• K. J. Choi, M. Biegalski, Y. L. Li, A. Sharan, J. Schubert, R. Uecker, P. Reiche, Y. B. Chen, X. Q. Pan, V. Gopalan, L. Q. Chen, D. G. Schlom, and C. B. Eom, Science 306, 1005(2004).
• J. H. Haeni, P. Irvin, W. Chang, R. Uecker, P. Reiche, Y. L. Li, S. Choudhury, W. Tian, M. E. Hawley, B. Craigo, A. K. Tagantsev, X. Q. Pan, S. K. Streiffer, L. Q. Chen, S. W. Kirchoefer, J. Levy, and D. G. Schlom, Nature 430, 758(2004).
• J. Garcia-Barriocanal, A. Rivera-Calzada, M. Varela, Z. Sefrioui, E. Iborra, C. Leon, S. J. Pennycook, and J. Santamaria, Science 321, 676(2008).

タイトルに関連する用語 (5件)： 酸化物 ,  ヘテロ界面 ,  酸素イオン ,  伝導 ,  探索