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J-GLOBAL ID：201702255251143296   整理番号：17A1085306

大クラスタイオン源を用いることによるToF-SIMSによるペプチドフラグメンテーションおよび表面構造解析

Peptide Fragmentation and Surface Structural Analysis by Means of ToF-SIMS Using Large Cluster Ion Sources

著者 (10件)： YOKOYAMA Yuta (Seikei Univ., Tokyo, JPN) ,  AOYAGI Satoka (Seikei Univ., Tokyo, JPN) ,  FUJII Makiko (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MATSUO Jiro (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  FLETCHER John S. (Univ. Gothenburg, Goeteborg, SWE) ,  LOCKYER Nicholas P. (Manchester Inst. of Biotechnology and School of Chemistry, Manchester, GBR) ,  VICKERMAN John C. (Manchester Inst. of Biotechnology and School of Chemistry, Manchester, GBR) ,  PASSARELLI Melissa K. (National Physical Lab., Middlesex, GBR) ,  HAVELUND Rasmus (National Physical Lab., Middlesex, GBR) ,  SEAH Martin P. (National Physical Lab., Middlesex, GBR)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 88  号： 7  ページ： 3592-3597  発行年： 2016年04月05日 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： バイオチップやバイオデバイスを評価するうえで,ペプチドや蛋白質の構造解析は重要な意味を持つ。本稿では,ToF-SIMSを用いて,表面から直接的に蛋白質表面構造を解析した経緯を報告する。アルゴン(Ar)クラスタイオンビームを検討に用いた。ペプチド解析のための最適なArクラスタイオンビームのエネルギー域は,6≦E/n≦10eV/原子であった。非ラベル化と同位体ラベル化ペプチドのスペクトルを比較することにより,低エネルギーArクラスタイオンビームによるペプチドの開裂を明らかにした。側鎖中の,E/n≦4eV/原子の低エネルギーでの側鎖分子の結合開裂も観察できた。

シソーラス用語： *クラスタイオン ,  イオン源 ,  *二次イオン質量分析 ,  *ペプチド ,  *フラグメンテーション ,  *表面構造 ,  アルゴンビーム ,  標識法 ,  開裂反応 ,  側鎖 ,  *TOF-SIMS ,  同位体標識 ,  *構造

分類 (2件)： 質量分析計  (BD02060M) ,  ペプチド  (CF10080G)

タイトルに関連する用語 (5件)： クラスタイオン ,  TOF-SIMS ,  ペプチド ,  フラグメンテーション ,  構造解析