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J-GLOBAL ID：201702255454764026   整理番号：17A1003209

格子干渉計を用いたサブ10msでのX線断層撮影

Sub-10-ms X-ray tomography using a grating interferometer

著者 (4件)： YASHIRO Wataru (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  YASHIRO Wataru (JST-ERATO, Tokyo, JPN) ,  NODA Daiji (Micromachine Center (MMC), Tokyo, JPN) ,  KAJIWARA Kentaro (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI), Hyogo, JPN)
資料名： Applied Physics Express  (Applied Physics Express)
巻： 10  号： 5  ページ： 052501.1-052501.4  発行年： 2017年05月 
JST資料番号： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 軽元素からなる材料でも高感度X線造影が可能なX線位相イメージング技術であるX線回折格子干渉法により,10ms以下の露光時間でX線位相断層像を得た。この高速X線イメージング実験は,白色X線ビームが利用可能なSPring-8のBL28B2で行い,断層画像は100000fpsのフレームレートで記録した投影画像から再構成した。実験セットアップは,10ms以下の時間分解能を有する反復不可能な高速現象の3次元観察の実現を可能にする。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 干渉計 ,  回折格子 ,  *X線干渉計 ,  *X線画像 ,  位相 ,  断層画像 ,  画像再構成 ,  *X線CT ,  X線回折 ,  シンクロトロン放射
準シソーラス用語： *X線位相イメージング ,  シンクロトロンX線回折 ,  格子干渉計

分類 (1件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J)

引用文献 (38件)：

• R. Fitzgerald, Phys. Today 53 [7], 23 (2000).
• A. Momose, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 6355 (2005).
• K. A. Nugent, Adv. Phys. 59, 1 (2010).
• C. David, B. Nöhammer, and H. H. Solak, Appl. Phys. Lett. 81, 3287 (2002).
• A. Momose, S. Kawamoto, I. Koyama, Y. Hamaishi, K. Takai, and Y. Suzuki, Jpn. J. Appl. Phys. 42, L866 (2003).

タイトルに関連する用語 (4件)： 格子 ,  干渉計 ,  サブ ,  X線断層撮影