Cai Miao について
School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China について
Yang Daoguo について
School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China について
Zheng Jianna について
School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China について
Huang Jianlin について
Institute of Microsystems and Nanoelectronics (Dimes), Delft University of Technology, Delft, The Netherlands について
Liu Dongjing について
School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China について
Xiao Jing について
School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China について
Zhang Ping について
School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China について
Zhang Guoqi について
School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China について
Zhang Guoqi について
Institute of Microsystems and Nanoelectronics (Dimes), Delft University of Technology, Delft, The Netherlands について
Chen Xianping について
College of Optoelectronic Engineering, Chongqing University, Chongqing, China について
Microelectronics Reliability について
低血圧症 について
分解反応 について
類似性 について
電流 について
発光ダイオード について
負荷試験 について
熱応力 について
減衰率 について
光学パラメータ について
LEDランプ について
熱散逸 について
加速劣化試験 について
昇電圧 について
試験方法 について
ストレス負荷 について
LEDランプモジュール について
降圧ストレス加速劣化試験 について
ステップストレス加速劣化試験 について
一定ストレス加速劣化試験 について
Degradation について
熱散逸の能力 について
光源,照明器具 について
発光素子 について
発光ダイオードモジュール について
ストレス負荷 について
試験法 について