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J-GLOBAL ID：201702259747353920   整理番号：17A1135820

プラズマ軟X線レーザの偏光解析のための多層コーティングフォトダイオードに基づくビーム強度モニター

Multilayer-coated photodiode-based beam intensity monitor for polarization analysis of plasma soft X-ray laser

著者 (1件)： IMAZONO Takashi (National Inst. for Quantum and Radiological Sci. and Technol., Kyoto, JPN)
資料名： Applied Optics  (Applied Optics)
巻： 56  号： 21  ページ： 5824-5829  発行年： 2017年07月20日 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 1559-128X  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 監視装置 ,  放射強度 ,  *X線レーザ ,  *軟X線 ,  プラズマ ,  レーザビーム ,  *フォトダイオード ,  被覆 ,  *偏光解析法 ,  多層構造 ,  光反射 ,  反射率 ,  入射角 ,  透過率
準シソーラス用語： *軟X線レーザ

分類 (3件)： その他のレーザ  (BD04090H) ,  光導電素子  (NC03083X) ,  偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (7件)： プラズマ ,  軟X線レーザ ,  偏光解析 ,  多層コーティング ,  フォトダイオード ,  ビーム強度 ,  モニター