Hommel S. について
Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-12, 85579 Neubiberg, Germany について
Killat N. について
Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-12, 85579 Neubiberg, Germany について
Altes A. について
Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-12, 85579 Neubiberg, Germany について
Schweinboeck T. について
Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-12, 85579 Neubiberg, Germany について
Schmitt-Landsiedel D. について
Department of Technical Electronics, Technical University of Munich, Arcisstrasse 21, 80333 Munich, Germany について
Silvestri M. について
Infineon Technologies Austria AG, Siemensstrasse 2, 9500 Villach, Austria について
Haeberlen O. について
Infineon Technologies Austria AG, Siemensstrasse 2, 9500 Villach, Austria について
Microelectronics Reliability について
二次元電子ガス について
電気特性 について
片持梁 について
マイクロ波 について
励起 について
顕微鏡 について
空間分解能 について
顕微鏡観察 について
キャラクタリゼーション について
原子間力顕微鏡 について
走査 について
AlGaN/GaN について
電荷キャリア について
電子素子 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
ナノメートルスケール について
電子デバイス について
解析 について
走査 について
マイクロ波 について
顕微鏡法 について