Liu Yang について
Ministry of Education, Key Lab. of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, Xidian Univ., Xi’an 710071, China について
Chai ChangChun について
Ministry of Education, Key Lab. of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, Xidian Univ., Xi’an 710071, China について
Fan QingYang について
Ministry of Education, Key Lab. of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, Xidian Univ., Xi’an 710071, China について
Shi ChunLei について
Ministry of Education, Key Lab. of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, Xidian Univ., Xi’an 710071, China について
Xi Xiaowen について
Ministry of Education, Key Lab. of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, Xidian Univ., Xi’an 710071, China について
Yu XinHai について
Ministry of Education, Key Lab. of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, Xidian Univ., Xi’an 710071, China について
Yang YingTang について
Ministry of Education, Key Lab. of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, Xidian Univ., Xi’an 710071, China について
Microelectronics Reliability について
バーンアウト について
HEMT について
走査電子顕微鏡 について
ヒ化ガリウム について
低雑音増幅器 について
昇温 について
エネルギー分散X線分光分析 について
マイクロ波 について
電圧依存性 について
二次元 について
熱モデル について
TCAD について
高出力マイクロ波 について
Kuバンド について
PHEMT について
低雑音増幅器 について
高電子移動度トランジスタ について
高出力マイクロ波 について
Kuバンド について
損傷 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
トランジスタ について
フロント について
ドア について
マイクロ波 について
パルス について
誘起 について
GaAs について
PHEMT について
Kuバンド について
損傷 について