Vandevelde Bart について
Imec, Leuven B-3001, Belgium について
Vanhee Filip について
KU Leuven - Technology Campus Ostend, Ostend, Belgium について
Pissoort Davy について
KU Leuven - Technology Campus Ostend, Ostend, Belgium について
Degrendele Lieven について
Imec, Ghent, Belgium について
De Baets Johan について
Imec, Ghent, Belgium について
Allaert Bart について
Connect Group, Ieper, Belgium について
Lauwaert Ralph について
Interflux Electronics, Ghent, Belgium について
Zanon Franco について
Imec, Leuven B-3001, Belgium について
Labie Riet について
Imec, Leuven B-3001, Belgium について
Willems Geert について
Imec, Leuven B-3001, Belgium について
Microelectronics Reliability について
高温 について
疲れ試験 について
剪断 について
電子部品 について
加速試験 について
はんだ付 について
熱サイクル について
疲れ破壊 について
クリープ について
はんだ について
プリント基板 について
有限要素シミュレーション について
四点曲げ試験 について
半田接合信頼性 について
熱サイクル について
はんだ接合部の疲労試験 について
曲げサイクル について
チップスケールパッケージ について
寿命予測 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
曲げ について
サイクル について
電子部品 について
熱サイクル について
はんだ について
疲労試験 について
代替法 について