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J-GLOBAL ID：201702266773396210   整理番号：17A1555869

ROBDDベース組合せ回路中の多重故障を検出するためのテストパターン生成【Powered by NICT】

Test pattern generation to detect multiple faults in ROBDD based combinational circuits

著者 (3件)： Shah Toral (CADSL, Dept. of Electrical Engineering, Indian Institute Of Technology Bombay, India) ,  Matrosova Anzhela (Dept. of Applied Mathematics and Cybernatics, Tomsk State University, Russia) ,  Singh Virendra (CADSL, Dept. of Electrical Engineering, Indian Institute Of Technology Bombay, India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IOLTS  ページ： 211-212  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 推定二分決定図(ROBDD)を用いた回路合成は単一縮退,多重縮退とパス遅延故障モデルの下での完全な可試験性を持つことが知られている。本論文では,ROBDDベース実装のための方法テスト生成を提案した。すべての多重縮退故障と遅延故障のための必要なテストベクトルは互いに素な積和(DSOPs)表現から誘導した,最小の努力で設計時間でテスト生成を可能にした。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *故障 ,  縮退 ,  縮退故障 ,  *組合せ回路 ,  二分決定グラフ ,  可試験性 ,  *多重化 ,  回路合成
準シソーラス用語： 互いに素 ,  テスト生成 ,  遅延故障 ,  *テストパターン生成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 論理回路  (NC05070B) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 組合せ回路 ,  多重 ,  故障 ,  テストパターン生成