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J-GLOBAL ID：201702266847950828   整理番号：17A1544922

SRAMベースのFPGAのためのプローブに基づくSEU検出法【Powered by NICT】

A probe-based SEU detection method for SRAM-based FPGAs

著者 (2件)： Sterpone Luca (CAD Group, Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy) ,  Boragno Luca (CAD Group, Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 76-77  ページ： 154-158  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： SRAMベースFPGAは,その柔軟性,再構成可能性と容量ならびにそれらの信号処理能力のために航空宇宙応用のためにますます適切なになってきている。残念なことに,市販の既製品(COTS)SRAMベースFPGAは空間またはアビオニクスのような電離放射線環境に非常に敏感で,放射線誘起シングルイベントアップセット(SEU)に非常に鋭敏になっている。本論文では,回路機能に影響を与える前に,SEU効果を検出することができる検出溶液を提案した。は伝統的な冗長性に基づく緩和技術よりも70%以上の潜時が改善したSEU効果の検出を予測できるので,開発した解は,最先端技術を克服した。に加えて,提案した解決策は,回路のタイミングに及ぼす無視できる影響を持ち,それは性能劣化を導入せず,面積利用の点で限られたコストを持つからである。比較(DEC)誤り検出法を用いた伝統的な重複を持つ三のベンチマーク回路上で行った実験では平均約98%の検出能力の改善を示した提案した方法の実現可能性を実証した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *プローブ ,  冗長性 ,  信号処理 ,  誤り検出 ,  電離放射線 ,  *検出法 ,  *SRAM ,  放射線 ,  柔軟性 ,  *FPGA ,  SEU【シングルイベント】 ,  航空電子機器
準シソーラス用語： ベンチマーク回路 ,  性能劣化 ,  再構成可能性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： SRAMベースFPGA ,  SEUプロービング ,  誤り検出

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： SRAM ,  FPGA ,  プローブ ,  SEU ,  検出法