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J-GLOBAL ID:201702267894538444   整理番号:17A0512972

蛍光飛跡検出器(FNTD)の粒子飛跡読取りにおけるX/γ線照射の影響

著者 (11件):
資料名:
巻: 2017  ページ: ROMBUNNO.2B11  発行年: 2017年03月09日 
JST資料番号: G0939B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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蛍光飛跡検出器(FNTD)のリーダーでは,荷電粒子とX/γ線の照射が重畳した場合,荷電粒子の飛跡読取り効率が低下する。この原因を明らかにするため,X/γ線照射量によるα線飛跡の画像変化を測定した。その結果,画像全体の蛍光強度はX/γ線照射量の増加に伴い不均一に上昇し,飛跡読取りを妨害した。80kVX線照射による蛍光強度の上昇は,照射量[mGy]で比較して137Cs-γ線の約2倍の感度を示した。(著者抄録)
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分類 (1件):
分類
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放射線検出・検出器 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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