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J-GLOBAL ID：201702267894538444   整理番号：17A0512972

蛍光飛跡検出器(FNTD)の粒子飛跡読取りにおけるX/γ線照射の影響

著者 (11件)： 橋詰拓弥 (長瀬ランダウア) ,  橋詰拓弥 (総合研究大学院大) ,  岡崎徹 (長瀬ランダウア) ,  佐波俊哉 (総合研究大学院大) ,  佐波俊哉 (高エネルギー加速器研究機構) ,  萩原雅之 (総合研究大学院大) ,  萩原雅之 (高エネルギー加速器研究機構) ,  文珠四郎秀昭 (総合研究大学院大) ,  文珠四郎秀昭 (高エネルギー加速器研究機構) ,  林裕晃 (徳島大) ,  小林育夫 (長瀬ランダウア)
資料名： 日本原子力学会春の年会予稿集(CD-ROM)  (日本原子力学会春の年会(CD-ROM))
巻： 2017  ページ： ROMBUNNO.2B11  発行年： 2017年03月09日 
JST資料番号： G0939B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 蛍光飛跡検出器(FNTD)のリーダーでは,荷電粒子とX/γ線の照射が重畳した場合,荷電粒子の飛跡読取り効率が低下する。この原因を明らかにするため,X/γ線照射量によるα線飛跡の画像変化を測定した。その結果,画像全体の蛍光強度はX/γ線照射量の増加に伴い不均一に上昇し,飛跡読取りを妨害した。80kVX線照射による蛍光強度の上昇は,照射量[mGy]で比較して¹³⁷Cs-γ線の約2倍の感度を示した。(著者抄録)

シソーラス用語： *検出器 ,  *荷電粒子 ,  *粒子飛跡 ,  γ線照射 ,  X線照射 ,  *放射強度 ,  セシウム137 ,  *ルミネセンス線量計 ,  α粒子ビーム ,  *飛跡検出器 ,  蛍光強度 ,  *OSL線量計 ,  *計測器
準シソーラス用語： α線

分類 (1件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J)

タイトルに関連する用語 (5件)： 蛍光 ,  飛跡検出器 ,  粒子飛跡 ,  読取り ,  γ線