Chinone N. について
Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University, 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, Japan について
Kosugi R. について
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, Japan について
Tanaka Y. について
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, Japan について
Harada S. について
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, Japan について
Okumura H. について
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, Japan について
Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University, 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, Japan について
Microelectronics Reliability について
酸化 について
画像 について
焼なまし について
界面 について
深準位過渡分光法 について
炭化ケイ素 について
画像処理 について
トラップ密度 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
走査型非線形誘電率顕微鏡 について
深準位過渡分光法 について