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J-GLOBAL ID：201702270284952520   整理番号：17A0020762

スキャンベース論理BISTの正しい電力試験のための柔軟な電力制御法【Powered by NICT】

A Flexible Power Control Method for Right Power Testing of Scan-Based Logic BIST

著者 (5件)： Kato Takaaki ,  Wang Senling ,  Sato Yasuo ,  Kajihara Seiji ,  Wen Xiaoqing
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ATS  ページ： 203-208  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スキャンベースのロジックBIST中の高電力消費はオーバテストをもたらすことを重要な問題である。適切なレベルに被テスト回路(CUT)のテスト電力を制御する強く求められているが,BISTのテスト電力を制御することは容易ではない。論理BISTのTPG(テストパターン発生器)によって生成された擬似ランダムパターンを修正する事により,パターンのトグル率を制御する任意のレベルまで新しい電力制御法を提案した。多くのアプローチがパターンのトグル率を制御するために提案されているが,提案したアプローチは,より高い故障検出率を提供することができる。実験結果は,提案した手法は,トグル率を制御する予め設定された目標レベルに修飾パターンは試験時間を増加させることなく,高い故障検出率を達成できることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： テスト構造 ,  故障検出 ,  *電力制御 ,  *BIST
準シソーラス用語： パターンジェネレータ ,  高電力 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 無線通信一般  (ND08010L)

タイトルに関連する用語 (5件)： スキャン ,  論理 ,  BIST ,  電力試験 ,  電力制御