Gysin U. について
Department of Physics, University of Basel, 4056 Basel, Switzerland について
Meyer E. について
Department of Physics, University of Basel, 4056 Basel, Switzerland について
Glatzel Th. について
Department of Physics, University of Basel, 4056 Basel, Switzerland について
Guenzburger G. について
Helmholtz-Zentrum Berlin, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany について
Rossmann H.R. について
Laboratory for Micro- and Nanotechnology, Paul Scherrer Institute, 5232 Villigen PSI, Switzerland について
Jung T.A. について
Department of Physics, University of Basel, 4056 Basel, Switzerland について
Jung T.A. について
Laboratory for Micro- and Nanotechnology, Paul Scherrer Institute, 5232 Villigen PSI, Switzerland について
Reshanov S. について
Ascatron AB, Electrum 207, 16440 Kista, Sweden について
Schoner A. について
Ascatron AB, Electrum 207, 16440 Kista, Sweden について
Bartolf H. について
ABB Switzerland Ltd, Corporate Research, 5405 Baden-Daettwil, Switzerland について
Microelectronic Engineering について
接触電位差 について
走査型プローブ顕微鏡 について
電力 について
表面欠陥 について
半導体 について
走査 について
半導体素子 について
照明 について
画像 について
力顕微鏡 について
断面積 について
顕微鏡観察 について
炭化ケイ素 について
数値シミュレーション について
パワーデバイス について
ドーパントイメージング について
走査型プローブ顕微鏡(SPM) について
パワー半導体デバイス について
炭化けい素 について
固体デバイス製造技術一般 について
固体デバイス材料 について
Josephson接合・素子 について
半導体素子 について
断面積 について