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J-GLOBAL ID:201702273090822374   整理番号:17A0576726

紫外線励起加工の研究(第22報) 紫外線励起下における4H-SiCウェハーの研磨特異性(その3)

著者 (3件):
資料名:
巻: 2017  号: 春季(CD-ROM)  ページ: ROMBUNNO.G65  発行年: 2017年03月01日 
JST資料番号: Y0914A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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4H-SiCの表面を,XASとXPSにより定性的に分析し,4H-SiCの研磨において,どのような反応生成物が除去されるかを推考した結果,次のような結論を得た。4H-SiCはTiO2-Cathilon水溶液に極微量溶ける。供試品を混合水溶液に浸漬すると,SiCの中に界面酸化物が生じる。混合スラリーで研磨すると,4H-SiCの表面に,酸化物,酸窒化物,窒化物が生じ,界面酸化物も生じる。28.8nmのダイヤモンド砥粒を混入した混合スラリーで研磨すると,Raで約0.5nm前後の粗さの面を試行的に得ることができる。(著者抄録)
シソーラス用語:
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分類 (2件):
分類
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固体デバイス材料  ,  固体デバイス製造技術一般 
引用文献 (3件):

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