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J-GLOBAL ID：201702276517023194   整理番号：17A1544905

DDR2SDRAMの列ハンマーパターン解析【Powered by NICT】

A row hammer pattern analysis of DDR2 SDRAM
著者 (3件)：
Versen M.

Versen M. について

(University of Applied Sciences Rosenheim, Rosenheim, Germany)

University of Applied Sciences Rosenheim, Rosenheim, Germany について

, 
Ernst W.

Ernst W. について

(Siemens AG, Amberg, Germany)

Siemens AG, Amberg, Germany について

, 
Gulati P.

Gulati P. について

(University of Applied Sciences Rosenheim, Rosenheim, Germany)

University of Applied Sciences Rosenheim, Rosenheim, Germany について


資料名：
Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)

Microelectronics Reliability について


巻： 76-77  ページ： 64-67  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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HILEVEL技術からGriffin III自動試験システムに実装DDR2SDRAM試験装置はハンマーバグを解析した。列ハンマーパターン実験は標準保持試験と比較した。解析はハンマー効果はストレス活性化サイクルの数に依存して電荷励起過程に起因することを確認した。応力は試験下の細胞の局所近傍で発生する。浅い不純物準位を用いて,DDR2SDRAM技術の関与する電荷キャリア輸送過程を支持した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*自動試験

自動試験 について

, 
輸送現象

輸送現象 について

, 
試験装置

試験装置 について

, 
不純物準位

不純物準位 について


準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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電荷キャリア

電荷キャリア について

, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件)：
分類
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固体デバイス製造技術一般 
(NC03030V)

固体デバイス製造技術一般 について

,  半導体集積回路 
(NC03162T)

半導体集積回路 について

タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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ハンマー

ハンマー について

, 
パターン解析

パターン解析 について


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