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J-GLOBAL ID：201702276629432432   整理番号：17A0548514

アルキルスルホン化ポリイミド薄膜の吸湿挙動のX線散乱および赤外吸収による解析とプロトン伝導性

著者 (5件)： 後藤崚介 (名大 院) ,  原光生 (名大 院) ,  小野祐太朗 (北陸先端科学技術大学院大) ,  長尾祐樹 (北陸先端科学技術大学院大) ,  永野修作 (名大 VBL)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 64th  ページ： ROMBUNNO.15a-416-9  発行年： 2017年03月01日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： ポリイミド ,  高分子膜 ,  吸湿性 ,  X線散乱 ,  赤外吸収スペクトル ,  *吸湿係数 ,  *プロトン伝導 ,  収着 ,  基 ,  FTIRスペクトル ,  *スルホン化ポリイミド ,  スルホ基 ,  水収着

分類 (1件)： 高分子固体のその他の性質  (CG02025L)

タイトルに関連する用語 (7件)： ポリイミド薄膜 ,  吸湿 ,  挙動 ,  X線散乱 ,  赤外吸収 ,  解析 ,  プロトン伝導性