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J-GLOBAL ID：201702279867578565   整理番号：17A0685206

暗号機器の故障検知のための加算回路の漏えい電磁情報計測

A Method of Fault Detection in Encryption Device Based on Leaked EM Information from Adder Circuit

著者 (4件)： SAGA Naoto (TOHOKU Univ., Miyagi, JPN) ,  HAYASHI Yu-ichi (Nara Inst. of Sci. and Technol., Nara, JPN) ,  MIZUKI Takaaki (TOHOKU Univ., Miyagi, JPN) ,  SONE Hideaki (TOHOKU Univ., Miyagi, JPN)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 117  号： 32(EMCJ2017 7-20)  ページ： 5-6  発行年： 2017年05月11日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,暗号機器のIC内部で発生した故障をICから漏えいする電磁情報を観測することで検出する。具体的には,加算回路をIC内部に実装し,故障時と正常動作時の漏えい電磁情報を比較する実験を行うことで,故障を検出する。実験の結果,故障時と正常動作時に漏えい電磁情報の振幅の変化が観測され,提案手法を用いることで故障を非侵襲で検出可能であることを明らかにした。(著者抄録)

シソーラス用語： *暗号装置 ,  故障検出 ,  *加算器 ,  情報 ,  *漏れ ,  計測 ,  波形測定
準シソーラス用語： *暗号機 ,  *加算回路 ,  故障検知 ,  *情報漏洩 ,  電子情報 ,  非侵襲計測

分類 (1件)： その他の電磁気的量の計測法・機器  (AD07070F)

引用文献 (4件)：

• D. Boneh, R. Demillio, and R. Liotin, ′′On the Importance of Checking Crypto-graphic Protocols for Fault,′′ Advances in Cryptology (Eurocrypt'97), LNCS 1233, pp.37-51, May 1997.
• Y. Hayashi, N. Homma, T. Sugawara, T. Mizuki, T. Aoki, and H. Sone, ′′Non-Invasive EMI-Based Fault Injection Attack against Cryptographic Modules′′, IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility(EMC), pp.763-767, 2011.
• K. Nakamura, Y. Hayashi, N. Homma, T. Mizuki, T. Aoki, H. Sone, ′′Method for estimating fault injection time on cryptographic′′, IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC), pp.235-240, 2015.
• S. Endo, T. Sugawara, N. Homma, T. Aoki, and A. Satoh, ′′An on-chip glitcy-clock generator and its application to safe-error attack,′′ 2nd International Workshop on Constructive Side-channel Analysis and Secure Design - COSADE, pp.175-182, 2011.

タイトルに関連する用語 (5件)： 暗号機 ,  故障検知 ,  加算回路 ,  漏えい ,  計測