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J-GLOBAL ID：201702281474709305   整理番号：17A0925958

放射光粉末結晶構造解析法を用いた多孔性配位高分子のガス吸着現象の構造科学的解明

Structural Study on the Gas Adsorption Phenomena in Porous Coordination Polymers by Synchrotron Powder Diffraction Method

著者 (1件)： 久保田佳基 (大阪府立大学大学院理学系研究科)
資料名： 日本結晶学会誌  (Journal of the Crystallographic Society of Japan)
巻： 59  号： 2-3  ページ： 72-80(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： G0232A  ISSN： 0369-4585  CODEN： NKEGAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 多孔性配位高分子(PCP)はナノサイズの規則的な細孔構造をもつ金属錯体のことであるが,Metal-Organic-Framework(MOF)とも呼ばれる。この物質群は現代化学において一つの大きな分野を形成しており,大変活発な研究が展開されている。本稿では,高輝度放射光粉末回折法によるPCPの細孔内に吸着されたガス分子の観測とゲスト-ホスト相互作用について考察した。まず,PCPの細孔内にガス分子が取り込まれていることを確認するため,PCPにガス分子を吸着した状態でのX線結晶構造解析,並びに吸着ガス分子の直接観察を示した。特に吸着分子として酸素分子に着目し,吸着酸素分子の構造と磁性についての研究結果を解説した。次世代のエネルギー源の1 つとして水素が大きく注目を集めているが,水素貯蔵合金のように物質に水素を吸わせる方法としてPCPへの期待が大きい.そのため,水素分子がどのような状態で取り込まれているかを知ることが大変重要であるとの認識から,ピラー層構造をもつ配位高分子(CPL-1)における水素吸着構造の解析結果を概説した。

シソーラス用語： 包接化合物 ,  *多孔性 ,  細孔 ,  *金属錯体 ,  シンクロトロン放射 ,  *X線回折 ,  *吸着 ,  酸素 ,  水素 ,  *配位高分子 ,  *構造解析
準シソーラス用語： MOF【配位高分子】

分類 (2件)： 配位化合物一般  (CE01010G) ,  物理的手法を用いた吸着の研究  (CB12043P)

引用文献 (25件)：

• 1)S. Kitagawa, R. Kitaura and S. Noro: Angew. Chem. Int. Ed. 43, 2334 (2004).
• 2)O. M. Yaghi, M. O’Keeffe, N. W. Ockwig, H. K. Chae, M. Eddaoudi and J. Kim: Nature 423, 705 (2003).
• 3)M. Takata, B. Umeda, E. Nishibori, M. Sakata, Y. Saito, M. Ohno and H. Shinohara: Nature 377, 46 (1995).
• 4)E. Nishibori, M. Takata, K. Kato, M. Sakata, Y. Kubota, S. Aoyagi, Y. Kuroiwa, M. Yamakata and N. Ikeda: J. Phys. Chem. Solid 62, 2095 (2001).
• 5)S. Takamizawa, E. Nakata, K. Mochizuki and W. Mori: Angew. Chem. Int. Ed. 42, 4331 (2003).

タイトルに関連する用語 (6件)： 放射光 ,  粉末 ,  結晶構造解析 ,  多孔性配位高分子 ,  吸着現象 ,  科学