Zhang Yujie について
Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China について
Liu Datong について
Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China について
Yu Jinxiang について
Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China について
Peng Yu について
Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China について
Peng Xiyuan について
Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China について
Microelectronics Reliability について
耐用年数 について
標準偏差 について
航空機 について
不確実性 について
予測 について
安全性 について
アルゴリズム について
電気機械 について
信頼性 について
誤り率 について
アクチュエータ について
アンサンブル学習 について
非線形モデル について
データ駆動 について
加重 について
残存有効寿命 について
電気機械的アクチュエータ について
航空機 について
Gauss過程回帰 について
重み付き袋詰めGPR について
Degradation について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
加重 について
バギング について
GPR について
アルゴリズム について
寿命予測 について
残存 について
EMA について