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J-GLOBAL ID:201702286721021440   整理番号:17A1420486

パッケージ・オン・パッケージ構造におけるはんだ接合の熱疲れ破壊挙動に関するシミュレーション研究【Powered by NICT】

Simulation study on thermo-fatigue failure behavior of solder joints in package-on-package structure
著者 (7件):
資料名:
巻: 75  ページ: 127-134  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0530A  ISSN: 0026-2714  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,0°Cから125°Cまでの温度範囲でPoP構造のシミュレーション解析は,直接サイクル解析とCoffin-Manson法を用いて行った。結果は,最大蓄積非弾性ヒステリシスエネルギーは底部微細ピッチボールグリッドアレイ(FBGA)構造におけるはんだボールに現れることを示した。熱疲労亀裂はFBGA構造におけるはんだボールの二つの対称角で始まる。外側列コーナーのボールにおける速く進化する熱疲労損傷は,FBGA構造における内部列ボールに伝搬する。はんだボールの破壊データを解析することにより,臨界破壊確率値は約80%である熱疲労破壊基準を定義した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  接続部品 

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