特許
J-GLOBAL ID：201703000540881225
粒子径計測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
喜多 俊文
, 江口 裕之
, 阿久津 好二
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-019851
公開番号（公開出願番号）：特開2013-160514
特許番号：特許第6080362号
出願日： 2012年02月01日
公開日（公表日）： 2013年08月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】被測定粒子群を含む被測定物を通過させる測定空間に測定光を出射する光源と、
前記光源からの測定光を前記被測定物に照射することにより発生する光強度分布をN個の光検出素子で検出する検出器と、
N個の光検出素子からのN個のアナログ信号をN個の二値化信号に変換させた後、N個の二値化信号を出力する変換ハードウェアと、
前記変換ハードウェアからのN個の二値化信号に基づいて、各二値化信号についてそれぞれ前記被測定粒子が測定空間を通過したと認識する粒子個数計測部と、
N個の光検出素子の内のX個の光検出素子からのX個のアナログ信号を出力する出力ファームウェアと、前記出力ファームウェアからのX個のアナログ信号に基づいて、
各アナログ信号についてそれぞれ前記測定空間を通過した被測定粒子の粒子径区分を分類して、各粒子径区分における粒子個数を計測する粒子径計測部と、
前記粒子径計測部で計測された各粒子径区分における粒子個数を表示器に表示させるとともに、前記粒子個数計測部で計測された粒子個数を表示器に表示する制御が可能となっている表示制御部とを備える粒子径計測装置であって、
前記表示制御部は、前記粒子径計測で計測された全粒子個数に対する各粒子径区分における粒子個数の割合を円グラフで表示する制御が可能となっていることを特徴とする粒子径計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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