特許
J-GLOBAL ID：201703000699832942

データ解析装置、データ解析方法、及びプログラム

発明者：
真鍋 鎮男

真鍋 鎮男 について

, 
北川 育夫

北川 育夫 について


出願人/特許権者：
株式会社パスコ

株式会社パスコ について


代理人 (1件)： 特許業務法人はるか国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-069521
公開番号（公開出願番号）：特開2014-190962
特許番号：特許第6125296号
出願日： 2013年03月28日
公開日（公表日）： 2014年10月06日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 地物表面から抽出された点群の3次元座標データに基づき、対象空間に存在するトンネルについて断面形状を検出するデータ解析装置であって、 鉛直な切断平面を前記対象空間に仮想的に設定し、前記対象空間のうち前記切断平面に沿い、かつ当該切断平面に直交した奥行き方向に予め設定した幅を有した断面近傍空間を格子状に分割して当該切断平面に沿って2次元配列された複数の部分空間を設定する部分空間設定手段と、 前記各部分空間を解析単位空間として設定し、当該解析単位空間ごとに、前記切断平面における前記トンネル内の表面の位置であるエッジを探索するエッジ探索手段と、 前記部分空間にて検出された前記エッジを当該部分空間の外にて追尾するエッジ追尾手段と、 前記部分空間ごとに、当該部分空間の前記エッジから始まった追尾で得られたエッジ群からトンネルの前記断面形状の一部となる部分断面形状を生成する部分断面形状生成手段と、 2つの前記部分断面形状の端部間を接続する部分断面形状接続手段と、を有し、 前記エッジ探索手段は、予め定められた幅の帯状の領域であって、前記切断平面に射影された点群が当該領域内に予め設定した基準以上に集まり、かつ当該領域内の点群が前記奥行き方向に予め設定した閾値以上の分布幅を有するエッジ見当領域を前記切断平面内にて探索し、当該エッジ見当領域に属する点群の前記切断平面内での分布に沿った方向線を前記エッジとして求め、 前記エッジ追尾手段は、前記解析単位空間から前記エッジが検出されると、当該エッジに対応する前記方向線の延長線の方向にて当該解析単位空間に隣接する新たな前記解析単位空間として追尾空間を設定し、 前記エッジ探索手段は、前記延長線に沿った前記エッジを前記追尾空間にて探索する一方、前記エッジに対応させて、当該エッジを中心線として予め定められた幅を有し、かつ当該エッジに応じた長さを有する帯状の領域であるエッジ近傍領域を定義し、 前記部分断面形状接続手段は、一方の前記部分断面形状の端部の前記エッジの延長線が他方の前記部分断面形状の端部の前記エッジの前記エッジ近傍領域と交差する場合に、当該両端部間を接続すること、 を特徴とするデータ解析装置。
IPC (4件)：
G01B 21/20 ( 200 6.01) ,  G01C 7/06 ( 200 6.01) ,  G01C 15/00 ( 200 6.01) ,  G01B 11/24 ( 200 6.01)
FI (5件)：
G01B 21/20 D ,  G01C 7/06 ,  G01C 15/00 104 A ,  G01B 21/20 101 ,  G01B 11/24 B
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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