特許
J-GLOBAL ID：201703001674230103
質量分析方法及び誘導結合プラズマ質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-042885
公開番号（公開出願番号）：特開2017-156332
出願日： 2016年03月04日
公開日（公表日）： 2017年09月07日
要約：
【課題】分析者の熟練度に関係なく、複数の測定対象試料の各々に含まれる目的元素を正しく定量することができる質量分析方法及び誘導結合プラズマ質量分析装置を提供する。【解決手段】プラズマイオン化部10と、質量分析部30と、全元素の同位体イオンの質量電荷比及び存在比と試料のプラズマイオン化時に生成する化合物イオン及び多価イオンの質量電荷比及び生成確率に関するイオン情報が保存された記憶部41と、代表試料のマススペクトルを取得する代表試料測定部42と、代表試料に含まれる元素を推定する含有元素推定部43と、目的元素のそれぞれについてイオン情報に基づき干渉イオンが存在しない同位体の有無を判定する干渉イオン判定部44と、測定質量電荷比決定部45と、複数の試料について選択イオンモニタリング測定を実行する全試料測定部46と、を備える誘導結合プラズマ質量分析装置及び質量分析方法を提供する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
誘導結合プラズマによって前記測定対象試料をプラズマイオン化するプラズマイオン化部と、該プラズマイオン化部において生成したイオンを質量分離して検出する質量分析部とを備えた誘導結合プラズマ質量分析装置を用いて、複数の測定対象試料のそれぞれについて、予め決められた1乃至複数の目的元素を測定する方法であって、
前記複数の測定対象試料のうちの1つである代表試料を前記プラズマイオン化部においてプラズマイオン化し、前記質量分析部においてスキャン測定を行ってマススペクトルを取得し、
前記代表試料のマススペクトルのマスピークの位置から、該代表試料に含まれる元素の種類を推定し、
前記推定された元素のうちの前記目的元素のそれぞれについて、前記目的元素を含む、前記測定対象試料に含まれていることが想定される全ての元素の同位体イオンの質量電荷比及び存在比と、前記測定対象試料のプラズマイオン化時に生成することが想定される化合物イオン及び多価イオンの質量電荷比及び生成確率に関する情報であるイオン情報に基づき当該目的元素の1価のイオンと同じ質量電荷比を有する別のイオンである干渉イオンが存在しない同位体の有無を判定し、
前記干渉イオンが存在しない同位体がある場合にはその中からマスピークの強度が最も大きい同位体の質量電荷比を当該目的元素の測定に用いる質量電荷比である測定質量電荷比に決定し、全ての同位体に干渉イオンが存在する場合には該干渉イオンに対応する元素である干渉元素の1価のイオンの検出強度から前記イオン情報に基づき該干渉イオンのマスピークの強度を求め、該強度を差し引いたマスピークの強度が最も大きい同位体の質量電荷比を測定に用いる質量電荷比である測定質量電荷比に決定し、
前記複数の測定対象試料を順に前記プラズマイオン化部に導入し、各試料について前記測定質量電荷比を用いた選択イオンモニタリング測定を実行する
ことを特徴とする質量分析方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N27/62 D
, G01N27/62 G
, H01J49/42
2G041CA01
, 2G041DA14
, 2G041EA03
, 2G041FA17
, 2G041FA21
, 2G041LA08
, 5C038JJ06
, 5C038JJ07
