特許
J-GLOBAL ID：201703002326562727

非破壊検査方法および装置

発明者：
大石 祐嗣

大石 祐嗣 について


出願人/特許権者：
一般財団法人電力中央研究所

一般財団法人電力中央研究所 について


代理人 (2件)： 栗原 浩之 ,  山▲崎▼ 雄一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-233865
公開番号（公開出願番号）：特開2017-101967
出願日： 2015年11月30日
公開日（公表日）： 2017年06月08日
要約：
【課題】コンプトン散乱γ線を利用する場合において、検査対象物を幅広く検出でき、さらに検出器の配設位置の制限という問題を生起することなく検出し得る非破壊検査方法およびその装置を提供する。【解決手段】X線またはγ線(以下、両者をまとめてγ線という)を検査対象物31に照射して前記検査対象物におけるコンプトン散乱に基づく1回散乱γ線のエネルギーよりも高エネルギー側に出現する前記2回散乱γ線のエネルギーに対する信号強度を表す散乱γ線エネルギー分布特性を検出する第1の工程と、前記散乱γ線エネルギー分布特性に基づき前記検査対象物における減肉の有無を検出する第2の工程とを有する。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
X線またはγ線(以下、両者をまとめてγ線という)を検査対象物に照射して前記検査対象物におけるコンプトン散乱に基づく1回散乱γ線のエネルギーよりも高エネルギー側に出現する2回散乱γ線のエネルギーに対する信号強度を表す散乱γ線エネルギー分布特性を検出する第1の工程と、 前記散乱γ線エネルギー分布特性に基づき前記検査対象物における減肉の有無を検出する第2の工程とを有することを特徴とする非破壊検査方法。
IPC (1件)：
G01N 23/203
FI (1件)：
G01N23/203
Fターム (12件)：
2G001AA02 ,  2G001BA15 ,  2G001CA02 ,  2G001DA02 ,  2G001EA03 ,  2G001GA01 ,  2G001JA05 ,  2G001KA03 ,  2G001KA05 ,  2G001KA11 ,  2G001LA02 ,  2G001MA06
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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