特許
J-GLOBAL ID：201703002399849420
遠隔偏光測定装置および方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
森下 賢樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-558108
公開番号（公開出願番号）：特表2017-512989
出願日： 2015年02月18日
公開日（公表日）： 2017年05月25日
要約：
【解決手段】試料(S)の遠隔偏光測定装置(100)に関する。本装置は第1波長(λE)の入射光波の光源(10)と、入射光波が伝搬するためのシングルモード光ファイバ(30)と、光ファイバの近位側に偏光状態生成器(PSG)および偏光状態解析器(PSA)と、遠位側に反射板(40)とを備える。PSAは、PSGが生成した入射波の各プローブ状態に関し、入射波が光ファイバ(30)中を伝搬し、光ファイバの遠位側で反射し、光ファイバ(30)中を逆向きに伝搬した後に得られる光波の偏光状態を解析することができる。処理手段(70)は、光ファイバの第1偏光測定から、光ファイバに関するミュラー行列(MF)を決定し、光ファイバと試料とを含む集合体の第2偏光測定から、集合体に関するミュラー行列(MT)を決定することができる。試料に関するミュラー行列(MO)が、光ファイバに関するミュラー行列と、集合体に関する行列とから決定される。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
少なくとも1つの第1波長(λE)を持つ入射光波の少なくとも1つの光源(10)と、
内部を入射光波が伝搬するためのシングルモード光ファイバ(30)と、
前記光ファイバの近位側に配置され、プローブ状態と呼ばれる入射光波の偏光状態を所与の数生成することができる偏光状態生成器(PSG)と、
前記光ファイバの遠位側に配置されるための反射板(40、44)と、
前記光ファイバの近位側に配置される偏光状態解析器(PSA)と、
処理手段(70)とを備え、
前記偏光状態解析器(PSA)は、入射波の各プローブ状態に関し、入射波が前記光ファイバ(30)中を伝搬し、前記光ファイバの遠位側で反射し、前記光ファイバ(30)中を逆向きに伝搬した後に得られる光波の偏光状態を解析することができ、
前記処理手段(70)は、前記光ファイバの第1偏光測定から、第1波長での前記光ファイバに関するミュラー行列(MF(λE))を決定することができ、
前記光ファイバに関するミュラー行列(MF(λE))は、各プローブ状態の解析と、前記光ファイバの遠位側の前記反射板で反射し、前記光ファイバ(30)中を後方に伝搬した少なくとも1つの光波の偏光の解析とによって得られ、
前記処理手段(70)は、前記光ファイバと試料とを含む集合体の第2偏光測定から、第1波長での前記集合体に関するミュラー行列(MT)を決定することができ、
前記集合体に関するミュラー行列(MT)は、各プローブ状態に関し、遠位側の試料によって戻され、前記光ファイバ(30)中を後方に伝搬した波を解析することによって得られ、
前記処理手段(70)は、前記光ファイバに関するミュラー行列(MF(λE))と、前記光ファイバと試料とを含む集合体に関するミュラー行列(MT)とから、第1波長での試料に関するミュラー行列(MO)を決定することができる、試料(S)の遠隔偏光測定装置(100、200)。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/21 Z
, A61B1/00 300D
2G059AA02
, 2G059AA06
, 2G059BB08
, 2G059BB12
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059EE11
, 2G059FF01
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG08
, 2G059JJ02
, 2G059JJ17
, 2G059JJ19
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059JJ24
, 2G059KK03
, 2G059MM01
, 4C161BB08
, 4C161CC04
, 4C161CC07
, 4C161FF40
, 4C161FF46
, 4C161HH54
, 4C161JJ17
, 4C161NN01
, 4C161PP13
, 4C161SS21
